半導体・電子部品の手配から代替品のご提案まで、なんでもご相談ください。
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外観検査 | 拡大鏡マイクロスコープにより表面、裏面、ピン、捺印の状態等を確認 |
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X線検査 | 透過型X線装置により内部構造を撮影 |
I-V特性検査 | カーブトレーサにより端子間特性確認 |
リマーク検査 | 特殊研磨材により表面を薄く削ることで確認 |
開封検査(デキャップ) | パッケージを開封、中のチップデザインを確認 |
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蛍光X線分析 | 蛍光X線装置にて鉛含、RoHS検査を行う |
リール加工 | スティック品やトレイ品をリールに加工。リールからリールへの加工 |
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ベーキング | 専用乾燥機にてご指定の温度、時間で加熱、防湿梱包 |
書き込み | ご指定のプログラムをデバイスに書き込み |